口腔医学研究

作者：郭小斌, 文昶, 李四红, 王水凝, 杨栋

单位：1.口颌系统重建与再生全国重点实验室,口腔生物医学教育部重点实验室,口腔医学湖北省重点实验室,武汉大学口腔医(学)院 湖北 武汉 430079; 2.武汉大学口腔医院赵家条门诊部 湖北 武汉 430079; 3.武汉大学口腔医院牙周科 湖北 武汉 430079

关键词：釉突,半导体激光,慢性牙周炎,牙周基础治疗,

基金：湖北省自然科学基金面上项目(编号:2021CFB466) 武汉市医学骨干人才培养工程(编号:2020-55) 武汉大学临床护理专项基金(编号:030) 湖北省高等学校省级教学研究项目(编号:2020044)

目的:研究半导体激光联合去釉突治疗在伴有釉突的Ⅱ度根分叉病变治疗中的临床效果及其影响因素。方法:纳入存在Ⅱ型釉突的Ⅱ度根分叉病变患者24例,共48颗患牙,随机分为根面平整组(SRP组)、去釉突+SRP组(D+SRP组)、去釉突+SRP+半导体激光组(D+SRP+L组)。SRP组不去釉突直接行SRP;D+SRP组去除釉突后行SRP;D+SRP+L组去釉突后,联合使用半导体激光辅助SRP。分别于治疗前及治疗后4周、3个月比较3组患者的探诊深度(PD)、牙龈出血指数(BI)、牙龈退缩(GR)和附着丧失(CAL)。收集36颗存在Ⅱ型釉突的离体牙,随机分为以上3组,制备根片,原子力显微镜下观察3组的表面形态,测定表面粗糙度(Ra值);免疫荧光细胞迁移实验观察牙周膜成纤维细胞(hPDLFs)迁移能力;牙龈卟啉单胞菌培养观察菌落形态。结果:治疗后4周及3个月,牙周各指标改善情况,D+SRP+L组最显著,D+SRP组次之,SRP组最差(P＜0.01)。原子力显微镜下测定各组表面粗糙度:D+SRP+L组最大,D+SRP组次之,SRP组最小。荧光显微镜下观察hPDLFs迁移细胞数目,D+SRP+L组迁移能力最高,组间差异具有统计学意义(P＜0.01)。原子力显微镜下VPM(peak material volume)值,D+SRP组与SRP组相比无明显差异;而D+SRP+L组最低,与SRP组相比差异有统计学意义。3组菌层厚度无明显差异(P>0.05)。结论:半导体激光联合去釉突可以提高有釉突的Ⅱ度根分叉病变患牙的基础治疗效果。

来源：2024年第2期

《口腔医学研究》期刊编辑部

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